随着集成电路(IC)制造工艺的不断发展以及芯片复杂度的不断提升,IC的静电放电(ESD)防护设计需求日益增长,设计难度也越来越大,传统的ESD设计技术已不能很好地满足新型芯片的ESD防护要求。韩雁,董树荣,Liou J.J.,Wong Hei著的《集成电路ESD防护设计理论方法与实践》系统深入地阐述了IC的ESD防护设计原理与技术,内容由浅入深,既涵盖了ESD防护设计初学者需要了解的入门知识,也为读者深入掌握ESD防护设计技能和研究ESD防护机理提供参考。
本书可作为科研单位ESD防护研究领域的专业参考书,也可供从事芯片可靠性设计的工程人员参考。
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